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光谱型椭偏仪
  • 阅读次数：
  • 发布时间：2023-08-04
  • 更新时间：2023-08-09

仪器名称

光谱型椭偏仪

规格型号

美国 J.A.Woollam M-2000U

主要性能技术指标

245-1000nm，470 wavelengths

主要功能和服务范围

用于各种不同薄膜的厚度及光学常数的测定，可测量亚纳米或数 十微米的膜厚，解析透明或吸收材料的光学常数。

送样要求

电介质、有机物、半导体、金属等薄膜

联系人

张鑫

放置地点

弘毅楼A507